FEI掃描電鏡專(zhuān)為細(xì)胞、細(xì)胞器、石棉、聚合物和軟材料等在環(huán)境溫度和低溫下的二維和三維成像而設(shè)計(jì)。以其可選的、可伸縮的冷凍箱和低劑量技術(shù)提高了電子束敏材料的成像質(zhì)量。此外，可以在配置中添加側(cè)插式可伸縮能量色散光譜(EDS)探測(cè)器，以實(shí)現(xiàn)精確化學(xué)分析。超大間隙的C-Twin極靴提供了*的應(yīng)用靈活性，再加上超高穩(wěn)定性的電子鏡筒，為高分辨率三維表征、原位動(dòng)態(tài)觀(guān)察和衍射應(yīng)用提供了新的機(jī)會(huì)。
FEI掃描電鏡具有高對(duì)比度、高質(zhì)量的TEM和stem成像，可同時(shí)檢測(cè)多種信號(hào)，并可采用四通道集成stem探測(cè)器。超穩(wěn)定的槍管和遠(yuǎn)程操作與智能凸輪和恒功率目標(biāo)快速模式和HT開(kāi)關(guān)。多用戶(hù)環(huán)境下的快速輕松切換。所有常規(guī)的TEM校正，如聚焦、最佳中心高度、中心光束偏移、中心聚焦孔徑和旋轉(zhuǎn)中心，都是自動(dòng)化的。
FEI掃描電鏡產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
1.*的復(fù)合末級(jí)透鏡可以在沒(méi)有電子束減速的情況下對(duì)任何樣品提供i較好的分辨率，即使在傾斜或地形測(cè)量時(shí)也是如此。
2.高效的背散射檢測(cè)始終確保良好的材料對(duì)比度，即使電子束敏感樣品在低電壓、電子束電流和任何傾斜角度下以TV速率成像。
3.極為靈活的探測(cè)器可以將探測(cè)器各部分提供的信息結(jié)合起來(lái)，以獲得關(guān)鍵的對(duì)比度或信號(hào)強(qiáng)度。
4.各種電荷緩解策略，包括樣品室壓力高達(dá)500pa的低真空模式，可以實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。
5.優(yōu)秀的分析平臺(tái)提供高電子束流，而且光斑很小。樣品箱支持三個(gè)EDS探測(cè)器，共面EDS和EBSD，以及一個(gè)優(yōu)化用于分析的低真空系統(tǒng)。
